私たちは宣伝します 社会貢献のための失敗分析, 顧客との連携における障害分析, 自動車向けAEC Q認証試験 最適化とアップグレード、高性能、高価値の製品を生成し、業界の省エネと排出削減を促進します。 私たちは顧客に私たちを使うように最善を尽くします競合他社とのベンチマークのための故障解析もっと安全に。私たちは常に相互利益の基本的な目的を達成し、お客様にサービスのより満足のいく評価を提供できるようにしたいと考えています。 将来、私たちは世界クラスの企業を育成し、経済グローバル化の文脈における主要な地位を確立するよう努めています。 長期的なビジネス開発プロセスでは、企業内部管理の改革と進歩を深め続け、グローバル市場開発のペースを常に促進しています。 会社の内部運営における無駄のない管理を強化し続け、運用効率を継続的に改善します。 業界が開発を伝えているように、私たちは技術革新、絶妙な品質、およびサービス品質のビジネス哲学を追求し続けます。 顧客に価値を生み出し、従業員の機会を生み出し、社会と株主に利益を生み出すことが私たちのコアバリューです。 当社の設立の開始時の火花から、成長の障害、現在の成長と発展まで、XX生産の創造は一種のガイダンスと強さになりました。 製品とサービスの多様なポートフォリオを備えたグローバル企業として、当社はクライアントのユニークなニーズを満たす柔軟なソリューションを提供しています。
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AEC-Q200 抵抗容量インダクタンスおよびその他のコンポーネントの製品テストAEC-200テスト規格は、自動車内の各コンポーネント環境における受動部品の動作温度範囲を詳細に規定し、各コンポーネントのテスト項目を厳密に区別し、一般的な一連のコンポーネントのテスト適用性について比較的完璧な規制を行っています。GRGテストは、より専門的で信頼性の高いAEC-Q200選択認証テストソリューションを提供できます。もっと
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ウェーハ分析用の高度な FIB および TEM高度なプロセス ウェーハ-レベルの FIB サンプル前処理と TEM 分析サービスは、ナノマテリアルの指定された位置で FIB サンプル前処理を実行し、それを透過型電子顕微鏡 (TEM) 技術と組み合わせることで、高度なプロセス チップ向けの正確なサンプル前処理と構造解析ソリューションを提供します。もっと
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AFM (原子間力顕微鏡) 分析Bruker Dimension ICON6 原子間力顕微鏡は、コンタクト、タッピング、ピークフォースタッピングを含む 12 のモードをサポートし、さまざまなサンプルの検査ニーズを満たし、半導体ウェーハ製造工場、FAB、パッケージング工場に多様な検査方法を提供します。もっと
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PFIB (プラズマ集束イオンビーム)Compared to traditional gallium-ion focused ion beam (Ga-FIB), PFIB utilizes a more powerful xenon (Xe) ion beam, achieving a maximum current of 2.5 μA at 30 keV energy, which increases its etchingもっと
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表面絶縁抵抗(SIR)試験表面絶縁抵抗(SIR)テストは、金属導体間の短絡や電流漏れによって引き起こされる問題を評価するのに使用でき、電子部品の電気特性に影響を与える可能性のあるはんだペースト内のフラックスやその他の化学物質がPCB表面に残っているかどうかを特定するのに役立ちます。. 表面絶縁抵抗 (SIR) テスト データは、PCB の清浄度を直接反映します。もっと
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半導体材料の微細構造解析と評価大規模集積回路の継続的な発展に伴い、チップ製造プロセスはますます複雑になり、半導体材料の異常な微細構造と組成がチップの歩留まり向上を妨げ、新しい半導体および集積回路技術の実装に大きな課題をもたらしています。GRGT は、半導体材料の微細構造分析および評価サービスを提供しています。もっと
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PCBボードレベルのプロセス品質評価GRGT の専門チームは、故障解析において 10 年以上の経験があり、自動車メーカー向けの自動車用電子機器の鉛フリープロセスの品質評価や、VW80000 シリーズや ES90000 シリーズなどの PCB ボードレベルのプロセス品質評価を提供して、企業が潜在的な品質欠陥を発見し、製品品質リスクを管理できるように支援します。もっと
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AEC-Q 104 認証テストGRGT は、AEC-Q 104 認証テストおよび認証サービスの完全なセットを提供します。さまざまなテストおよび分析技術とプログラムを使用して、製品の故障現象を確認し、故障モードまたはメカニズムを区別し、根本的な原因を特定し、設計および製造プロセスの改善を提案し、故障を排除して再発を防ぎ、製品の信頼性を向上させます。もっと
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AEC-Q102 光電子デバイスの製品テストフォード、クライスラー、ゼネラルモーターズで構成されるAECは、光電子デバイスの信頼性規格AEC-Q102を発行しました。これは、光電子デバイスの信頼性に対する厳格なテスト要件を設定し、主要なエンジン工場に高い信頼性と長い耐用年数を備えた光電子デバイスを提供します。GRGテストのAEC-Q技術チームは、光電子デバイスの信頼性をテストするために多数のAEC-Qテストを実施しました。もっと
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半導体ディスクリートデバイスのAEC-Q101認証テストAEC-Q101は、さまざまな半導体ディスクリートデバイスの車両信頼性要件を整理しました。AEC-Q101テストは、コンポーネントの信頼性に関する世界中で使用できるレポートとしてだけでなく、車載サプライチェーンへの足がかりとしても機能します。GRGテストは、SiC第3世代半導体デバイスのAEC-Q認証に関する豊富な実践経験を持ち、もっと
売り手の製品を購入するのはこれが初めてであり、商品はすぐに受け取られました。製品が宣伝されていることを本当に嬉しく思います!
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