コンポーネント故障解析

チップ-レベルの ESD（静電気放電）テストは、製造、パッケージング、輸送、または使用中に静電気放電による干渉に耐えるチップの能力を評価するために使用される集積回路（IC）の信頼性テストです。 GRGTEST は成熟した技術チームと業界専門家を擁し、効率的な ESD 試験サービスを可能にします。

このサービスは、GB/T 40432-2021 規格に従って、温度サイクル (-40 度から 85 度まで)、湿熱老化 (95% RH)、過電圧サージ (定格電圧の 1.5 倍) など、オンボード充電器 (OBC) に対して 7 つのカテゴリと 20+ の極端なテストを実施します。 8 ～ 10 年間の使用劣化を正確にシミュレートし、電源コンポーネントの寿命と安全マージンを検証します。

抵抗器、コンデンサー、磁性ビーズ、LED、IGBT、PCB、マイクロ波/RFセラミックパッケージはんだ、ベアチップPADなどの腐食しやすい部品、および保護プロセスと材料に焦点を当てています。硫化腐食、ハロゲン腐食、フラックス腐食、VOC腐食など、対象を絞った耐食性検証と腐食寿命試験を実施します。

GRGTEST は、製品開発、設計、生産、販売プロセスの品質管理を提供し、企業が製品品質の問題を特定し、効果的な解決策を調整できるように支援します。

X 線 NDT 試験は、材料検査 (IQC)、故障解析 (FA)、品質管理 (QC)、品質保証と信頼性 (QA/REL)、研究開発 (R&D) などの分野で広く使用されている成熟した非破壊検査方法です。. GRGT は、金属材料や部品、電子部品、ケーブル、固定具、プラスチック部品などの X 線非破壊検査を実行できます。

GRGT は、半導体チップの非破壊分析、電気特性/電気位置分析、破壊分析、顕微鏡分析、故障分析を提供できる一流の専門家チームと高度な故障分析機器を擁しています。

LED アプリケーションの急速な発展に伴い、LED の故障問題が特に顕著になってきています。特に、LED のランダムまたは永続的な非点灯や焼損は、製品の信頼性と寿命を脅かす重要な問題です。GRGT LED 故障解析では、顕微鏡分析を通じて LED

GRGT の専門チームは、故障解析において 10 年以上の経験があり、自動車メーカー向けの自動車用電子機器の鉛フリープロセスの品質評価や、VW80000 シリーズや ES90000 シリーズなどの PCB ボードレベルのプロセス品質評価を提供して、企業が潜在的な品質欠陥を発見し、製品品質リスクを管理できるように支援します。

GRGTは、300セット以上のハイエンド検出および分析機器を投資し、医師と専門家を中核とする人材チームを結成し、機器製造、自動車、パワーエレクトロニクスと新エネルギー、5G通信、光電子デバイス、センサー、鉄道輸送、材料の分野の6つの専門実験室を設立しました。企業は、専門的な故障解析、部品スクリーニング、信頼性テスト、プロセス品質評価、製品認証、寿命評価などのサービスを提供し、企業が電子製品の品質と

GRGT 電源モジュールのエージングおよびテスト検証は、AC/DC 電源、モジュール電源、医療用電源などのさまざまな電源製品のテストに適しています。. パワーモジュールエージングテストは、パワーモジュールに電気的ストレスと熱的ストレスを加え、不良品を短期間で故障させることで、パワーモジュールの使用信頼性を向上させます。.

PCB/PCBA 表面のイオン残留物は、湿気の多い雰囲気やその他の条件下では正イオンと負イオンに分解され、溶媒の導電性が向上し、表面腐食や結晶成長から生じる短絡による故障や燃焼など、製品に重大な影響を及ぼします。

GRGテストは電子部品の信頼性ビジネスを立ち上げ、ユーザーに電子部品のテスト、評価、品質保証の完全なスキームセットを提供できます。さまざまな電子部品のスクリーニングとテスト項目をカバーし、不適格なコンポーネントを排除し、電子部品の使用信頼性を向上させ、電子部品の品質と信頼性を向上させることができます。