X線非破壊検査

X線非破壊検査
詳細:
X 線 NDT 試験は、材料検査 (IQC)、故障解析 (FA)、品質管理 (QC)、品質保証と信頼性 (QA/REL)、研究開発 (R&D) などの分野で広く使用されている成熟した非破壊検査方法です。
GRGT は、金属材料や部品、電子部品、ケーブル、固定具、プラスチック部品などの X 線非破壊検査を実行できます。
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説明
技術的なパラメーター
サービス内容

 

  • 金属材料や部品、電子部品、LED部品などの内部のクラックや異物などの欠陥を検出し、BGA、回路基板などの内部変位を解析します。
  • 空はんだ接合部や仮想はんだ接合部などのBGA溶接欠陥を特定し、ケーブル、固定具、プラスチック部品などの内部状態を分析

 

サービス範囲

 

主にSMT LED.BGA.CSPフリップチップ検査、半導体、パッケージング部品、リチウム電池産業、電子部品、自動車部品、太陽光発電産業、アルミダイカスト金型鋳造、成形プラスチック、セラミック製品などの特殊産業に使用されます。

 

テスト項目

 

GB/T19293-2003、GB17925-2011、GB/T 23909.1-2009 など

 

詳細なテスト基準については、オンライン カスタマー サービスにお問い合わせください。

 

資格

 

CNAS CMA および 60 社を超える OEM と Tier1 によって認定されています。

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テストサイクル

 

約 3-5 日

 

当社の強み

 

GRGT は集積回路の故障解析技術に注力しており、業界をリードする専門家チームと先進的な故障解析機器を擁しています。お客様に完全な故障解析およびテスト サービスを提供し、メーカーが迅速かつ正確に故障箇所を特定し、故障の根本原因を突き止めるのに役立ちます。同時に、さまざまなアプリケーションに対する故障解析コンサルティングを提供し、お客様の実験計画を支援し、お客様の R&D ニーズに基づいて解析およびテスト サービスを提供することもできます。たとえば、お客様と協力して NPI 段階の検証を実施し、量産段階 (MP) でのバッチ故障解析の完了を支援します。

 

テストケース

 

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