当社の高度な製品テクノロジー、成熟した製品品質、および豊富な製品サポートアクセサリーは、確かにあなたの最高の需要を満たしているでしょう ビジネス目標を達成するための失敗分析, ビジネス目標達成のための失敗分析, イノベーション文化を育むための失敗分析, 利害関係者の関与に関する失敗分析 。 私たちは顧客にテーラーメイドを積極的に提供しています部門横断的な連携における障害分析サービス。私たちは、スタッフ、厳格な品質管理、および思いやりのある顧客サービスを経験しています。完全な顧客満足度を確保するために、いつでもお客様の要件について話し合うことができます。業界の複数年のブランドとして、当社は顧客のニーズと問題点を理解しており、細心のガイダンス、専門サービス、効率的な生産を提供できます。 当社の重要なソフトパワーの1つとして、品質倫理は当社の事業活動を導きます。コピーできないため、当社にとっては独占的な利点です。 長年にわたり、同社は製品の品​​質管理と安全性能を非常に重要にしています。 長年にわたり、私たちの会社は常に、誠実さと責任は人であることの基礎であるだけでなく、大義の発展のための生命の源でもあると信じてきました。 私たちは高尚な理想と高尚な目標を持っているので、私たちは長い間主張し続けてきました。 会社が取るすべてのステップは、開発の新しい出発点です。
  • AEC-Q 104 認証テスト
    GRGT は、AEC-Q 104 認証テストおよび認証サービスの完全なセットを提供します。さまざまなテストおよび分析技術とプログラムを使用して、製品の故障現象を確認し、故障モードまたはメカニズムを区別し、根本的な原因を特定し、設計および製造プロセスの改善を提案し、故障を排除して再発を防ぎ、製品の信頼性を向上させます。
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  • ウェーハ切断装置とSEM画像撮影
    ウェーハ切断装置と SEM イメージング サービスは、材料科学、エレクトロニクス産業、生物医学研究の重要な技術サポートであり、特に内部構造観察、欠陥分析、研究開発検証に適しています。
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  • チップ-レベルの ESD テスト
    チップ-レベルの ESD(静電気放電)テストは、製造、パッケージング、輸送、または使用中に静電気放電による干渉に耐えるチップの能力を評価するために使用される集積回路(IC)の信頼性テストです。 GRGTEST は成熟した技術チームと業界専門家を擁し、効率的な ESD 試験サービスを可能にします。
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  • コンポーネントの腐食検証
    抵抗器、コンデンサー、磁性ビーズ、LED、IGBT、PCB、マイクロ波/RFセラミックパッケージはんだ、ベアチップPADなどの腐食しやすい部品、および保護プロセスと材料に焦点を当てています。硫化腐食、ハロゲン腐食、フラックス腐食、VOC腐食など、対象を絞った耐食性検証と腐食寿命試験を実施します。
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  • X線非破壊検査
    X 線 NDT 試験は、材料検査 (IQC)、故障解析 (FA)、品質管理 (QC)、品質保証と信頼性 (QA/REL)、研究開発 (R&D) などの分野で広く使用されている成熟した非破壊検査方法です。. GRGT は、金属材料や部品、電子部品、ケーブル、固定具、プラスチック部品などの X 線非破壊検査を実行できます。
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  • 半導体チップの故障解析
    GRGT は、半導体チップの非破壊分析、電気特性/電気位置分析、破壊分析、顕微鏡分析、故障分析を提供できる一流の専門家チームと高度な故障分析機器を擁しています。
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  • パワーモジュールの経年劣化とテスト検証
    GRGT 電源モジュールのエージングおよびテスト検証は、AC/DC 電源、モジュール電源、医療用電源などのさまざまな電源製品のテストに適しています。. パワーモジュールエージングテストは、パワーモジュールに電気的ストレスと熱的ストレスを加え、不良品を短期間で故障させることで、パワーモジュールの使用信頼性を向上させます。.
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  • 自動車向けAEC-Q認証試験
    AEC-Qは、自動車レベルの電子部品のテスト仕様として世界で認められており、自動車部品の品質と信頼性の象徴となっています。自動車向けのAEC-Q認証テストは、製品の競争力を高め、サプライチェーンに迅速に参入する上で重要な役割を果たします。
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  • AEC-Q100認証テスト
    GRGT 故障解析研究所の AEC-Q 技術チームは、多数の AEC-Q テストケースを実行し、認証テストにおける豊富な経験を蓄積しており、より専門的で信頼性の高い AEC-Q100 認証テスト サービスを提供できます。
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  • AEC-Q200 抵抗容量インダクタンスおよびその他のコンポーネントの製品テスト
    AEC-200テスト規格は、自動車内の各コンポーネント環境における受動部品の動作温度範囲を詳細に規定し、各コンポーネントのテスト項目を厳密に区別し、一般的な一連のコンポーネントのテスト適用性について比較的完璧な規制を行っています。GRGテストは、より専門的で信頼性の高いAEC-Q200選択認証テストソリューションを提供できます。
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  • AEC-Q102 光電子デバイスの製品テスト
    フォード、クライスラー、ゼネラルモーターズで構成されるAECは、光電子デバイスの信頼性規格AEC-Q102を発行しました。これは、光電子デバイスの信頼性に対する厳格なテスト要件を設定し、主要なエンジン工場に高い信頼性と長い耐用年数を備えた光電子デバイスを提供します。GRGテストのAEC-Q技術チームは、光電子デバイスの信頼性をテストするために多数のAEC-Qテストを実施しました。
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  • 半導体ディスクリートデバイスのAEC-Q101認証テスト
    AEC-Q101は、さまざまな半導体ディスクリートデバイスの車両信頼性要件を整理しました。AEC-Q101テストは、コンポーネントの信頼性に関する世界中で使用できるレポートとしてだけでなく、車載サプライチェーンへの足がかりとしても機能します。GRGテストは、SiC第3世代半導体デバイスのAEC-Q認証に関する豊富な実践経験を持ち、
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優れたカスタマーサービスに対する会社のコミットメントとサポートは、彼らが余分な距離を行くように動機付けています。これは、彼らと協力することを選んだことと、彼らの優れたサービスに感謝します。
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