サービス内容
IC は重要な自動車部品として、AEC 委員会が継続的に注目する重要な分野です。IC の AEC-Q100 信頼性テストは、加速環境ストレス信頼性、加速寿命シミュレーション信頼性、パッケージング信頼性、ウェーハプロセス信頼性、電気パラメータ検証、欠陥スクリーニング、パッケージング完全性テストに細分化され、デバイスが耐えられる温度レベルに基づいてテスト条件を選択する必要があります。
の検証AEC-Q100認証テストウエハーサプライヤーとパッケージングおよびテスト工場の協力が必要であり、これにより認証テストの全体的な管理能力がさらにテストされます。RGT は、顧客の要件と標準に基づいて顧客の IC を評価し、IC の信頼性認証を支援するために合理的な認証プランを提供します。
テストサイクル
約 3-4 か月。
テスト項目
|
S/N |
テスト項目 |
略語 |
サンプル数/バッチ |
バッチ番号 |
試験方法 |
|
グループA加速環境ストレステスト |
|||||
|
A1 |
事前調整 |
パソコン |
77 |
3 |
J-STD-020, |
|
JESD22-A113 |
|||||
|
A2 |
温度・湿度バイアス |
THB |
77 |
3 |
JESD22-A101 |
|
偏ったHAST |
ハスト |
JESD22-A110 |
|||
|
A3 |
オートクレーブ |
交流 |
77 |
3 |
JESD22-A102 |
|
偏りのないHAST |
高速鉄道 |
JESD22-A118 |
|||
|
温度-湿度（バイアスなし） |
TH |
JESD22-A101 |
|||
|
A4 |
温度サイクル |
TC |
77 |
3 |
JESD22-A104、付録3 |
|
A5 |
電力温度サイクリング |
PTCC |
45 |
1 |
JESD22-A105 |
|
A6 |
高温保存寿命 |
HSTL |
45 |
1 |
JESD22-A103 |
|
グループB 加速寿命シミュレーション試験 |
|||||
|
B1 |
高温動作寿命 |
HTOL |
77 |
3 |
JESD22-A108 |
|
B2 |
初期故障率 |
エルフ |
800 |
3 |
AEC-Q100-008 |
|
B3 |
NVMの耐久性、データ保持、動作寿命 |
電子データ |
77 |
3 |
AEC-Q100-005 |
|
グループC カプセル化完全性試験 |
|||||
|
C1 |
ワイヤーボンドせん断 |
作業時間 |
少なくとも5つのデバイスに30本のボンディングワイヤ |
AEC-Q100-001,AEC-Q003 |
|
|
C2 |
ワイヤーボンドプル |
ワールドワイド |
MIL-STD883メソッド2011、 |
||
|
欧州委員会 |
|||||
|
C3 |
はんだ付け性 |
SD |
15 |
1 |
JESD22-B102またはJ-STD-002D |
|
C4 |
物理的寸法 |
PD |
10 |
3 |
JESD22-B100、JESD22-B108 |
|
欧州委員会 |
|||||
|
C5 |
はんだボールせん断 |
SBS |
10 個のデバイスに対して少なくとも 5 個のボンディングボール |
3 |
AEC-Q100-010, |
|
欧州委員会 |
|||||
|
C6 |
リードの完全性 |
リー |
5 台のデバイスに対して少なくとも 10 件のリード |
1 |
JESD22-B105 |
|
グループD ウェーハ製造信頼性試験 |
|||||
|
D1 |
エレクトロマイグレーション |
EM |
/ |
/ |
/ |
|
D2 |
時間依存の誘電破壊 |
TDDB |
/ |
/ |
/ |
|
D3 |
ホットキャリア注入 |
ヒューマンコミュニケーション |
/ |
/ |
/ |
|
D4 |
負バイアス温度不安定性 |
NBTI |
/ |
/ |
/ |
|
D5 |
ストレス移行 |
SM |
/ |
/ |
/ |
|
グループE電気検証テスト |
|||||
|
E1 |
ストレス前後の機能/パラメータ |
テスト |
電気試験におけるストレス試験に必要なすべてのサンプル |
サプライヤーまたはユーザーの仕様 |
|
|
E2 |
静電気放電人体モデル |
HBM |
参照テスト仕様 |
1 |
AEC-Q100-002 |
|
E3 |
静電放電帯電デバイスモデル |
ＣＤＭ |
参照テスト仕様 |
1 |
AEC-Q100-011 |
|
E4 |
ラッチアップ |
ルー |
6 |
1 |
AEC-Q100-004 |
|
E5 |
電気配電 |
ED |
30 |
3 |
AEC Q100-009 |
|
AEQ003 認証 |
|||||
|
E6 |
断層の等級付け |
FG |
- |
- |
AEC-Q100-007 |
|
E7 |
特徴づけ |
文字 |
- |
- |
欧州委員会 |
|
E9 |
電磁両立性 |
電磁場 |
1 |
1 |
SAE J1752/3- |
|
E10 |
短絡特性評価 |
SC |
10 |
3 |
AEC-Q100-012 |
|
E11 |
ソフトエラー率 |
セル |
3 |
1 |
JEDEC |
|
JESD89-1 |
|||||
|
JESD89-2 または JESD89-3 |
|||||
|
E12 |
鉛フリー |
LF |
参照テスト仕様 |
参照テスト仕様 |
欧州委員会 |
|
グループF欠陥スクリーニングテスト |
|||||
|
F1 |
プロセス平均テスト |
パット |
/ |
/ |
認証 |
|
F2 |
統計ビン/収量分析 |
SBA |
/ |
/ |
欧州委員会 |
|
グループ G シールおよび包装の完全性試験 |
|||||
|
G1 |
機械的衝撃 |
MS |
15 |
1 |
JESD22-B104 |
|
G2 |
可変周波数振動 |
ＶＦＶ |
15 |
1 |
JESD22-B103 |
|
G3 |
一定加速 |
カナダ |
15 |
1 |
MIL-STD883 メソッド 2001 |
|
G4 |
総漏洩/微細漏洩 |
GFL |
15 |
1 |
MIL-STD883 メソッド 1014 |
|
G5 |
パッケージドロップ |
落とす |
5 |
1 |
/ |
|
G6 |
蓋のトルク |
LT |
5 |
1 |
MIL-STD883 メソッド 2024 |
|
G7 |
ダイシアー |
DS |
5 |
1 |
MIL-STD883 メソッド 2019 |
|
G8 |
内部水蒸気 |
IWV |
5 |
1 |
MIL-STD883 メソッド 1018 |
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